|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 76 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of the Al2O3 interfacial layer thickness on the measurement temperature-induced I–V characteristics in Au/Ti/Al2O3/n-GaAs structures |
| Auteur: |
Turut, Abdulmecit Karabulut, Abdulkerim Efeoǧlu, Hasan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 17 pagina's 22680-22688 |
| Jaar: |
2021-08-13 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 76 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |