|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 98 van 121 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the yield improvement and reliability of 28 nm advanced chips based on structural analysis |
| Auteur: |
Zhao, Dongyan Wang, Yubo Shao, Jin Chen, Yanning Fu, Zhen Liu, Fang Yang, Hong Du, Anyan Li, Junfeng Wang, Wenwu Li, LianLian |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 13 pagina's 18076-18086 |
| Jaar: |
2021-06-22 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 98 van 121 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |