|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Direct current tolerant characteristics of FeCuNbSiB nanocrystalline in tensile stress annealing |
| Auteur: |
Pan, Yun Liu, Tiancheng Li, Guangmin Dai, Baiyang Lv, Na |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 1 pagina's 473-484 |
| Jaar: |
2020-11-18 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |