|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 102 gevonden artikelen
| Titel: |
Ag/HfO2-based conductive bridge memories elaborated by atomic layer deposition: impact of inert electrode and HfO2 crystallinity on resistive switching mechanisms |
| Auteur: |
Saadi, M. Gonon, P. Vallée, C. Jomni, F. Jalaguier, E. Bsiesy, A. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 16 pagina's 13487-13495 |
| Jaar: |
2020-07-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 102 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |