|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 67 van 107 gevonden artikelen
| Titel: |
Point defects behavior analysis in thin films and massif SnO2 by AES spectroscopy and photoluminescence |
| Auteur: |
Ghaffor, Djamel Lounis, Zakia Zegadi, Chawki Mahfoud, Abdelkrim Derri, Amira Hadj-Kaddour, Amel Bouslama, M’hamed |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 13 pagina's 10213-10224 |
| Jaar: |
2020-05-15 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 67 van 107 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |