|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 90 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of asymmetric degradation in electrical properties of a-InGaZnO thin-film transistor arrays as a function of channel width-to-length aspect ratio |
| Auteur: |
Agrawal, Khushabu Patil, Vilas Chavan, G. T. Yoon, Geonju Kim, Jaemin Park, Jinsu Pae, Sangwoo Kim, JinSeok Cho, Eun-Chel Yi, Junsin |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 12 pagina's 9826-9834 |
| Jaar: |
2020-05-09 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 90 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |