|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 101 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of temperature dependent electrical transport parameters in Fe3O4/SiO2/n-Si metal–insulator-semiconductor (MIS) type Schottky barrier heterojunction in a wide temperature range |
| Auteur: |
Nanda Kumar Reddy, Nallabala Godavarthi, Srinivas Mohan Kumar, Kesarla Kummara, Venkata Krishnaiah Prabhakar Vattikuti, S. V. Akkera, Harish Sharma Bitla, Yugandhar Jilani, S. A. K. Manjunath, V. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2019) nr. 9 pagina's 8955-8966 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 101 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |