|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 85 van 96 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on leakage current, ferroelectric and dielectric properties of BFMO thin films with different bismuth contents |
| Auteur: |
Chen, L. X. Xu, C. Fan, X. L. Cao, X. H. Ji, K. Yang, C. H. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2019) nr. 8 pagina's 7704-7710 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 85 van 96 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |