|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 65 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profile crystal orientation determination of Cu(In1−xGax)Se2 thin films by GIXRD method applying skin depth theory |
| Auteur: |
Kaleli, Murat Alp Yavru, C. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2019) nr. 22 pagina's 20154-20159 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 65 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |