|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 62 van 65 gevonden artikelen
| Titel: |
The role of interface traps, series resistance and (Ni-doped PVA) interlayer effects on electrical characteristics in Al/p-Si (MS) structures |
| Auteur: |
Demirezen, Selçuk |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2019) nr. 22 pagina's 19854-19861 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 62 van 65 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |