|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
Empirical expressions for the spectral dependence of the refractive index for the case of thin-film silicon and some of its common alloys |
| Auteur: |
Moghaddam, Saeed O’Leary, Stephen K. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2018) nr. 2 pagina's 1637-1646 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |