|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 91 van 91 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray induced Sm-ion valence conversion in Sm-ion implanted fluoroaluminate glasses towards high-dose radiation measurement |
| Auteur: |
Chicilo, Farley Koughia, Cyril Curry, Richard Gwilliam, Russel Ahumada-Lazo, Ruben Edgar, Andy Binks, David J. Chapman, Dean Kasap, Safa |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2019) nr. 18 pagina's 16740-16746 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 91 van 91 gevonden artikelen
| << vorige |