|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 102 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of local atomic structure of Ni doped SnO2 thin films via X-ray absorption spectroscopy and their magnetic properties |
| Auteur: |
Sharma, Mayuri Aljawfi, Rezq Naji Kumari, Kavita Chae, K. H. Gautam, S. Dalela, S. Alvi, P. A. Kumar, Shalendra |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2018) nr. 1 pagina's 760-770 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 102 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |