|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 100 van 102 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray analysis for micro-structure of AlN/GaN multiple quantum well systems |
| Auteur: |
Liubchenko, Oleksii I. Kladko, Vasyl P. Sabov, Tomash M. Dubikovskyi, Oleksandr V. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2018) nr. 1 pagina's 499-507 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 100 van 102 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |