|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of optical and electrical properties of erbium-doped TiO2 thin films for photodetector applications |
| Auteur: |
Mondal, Sanjib Ghosh, Anupam Piton, M. Rizzo Gomes, Joaquim P. Felix, Jorlandio F. Gobato, Y. Galvão Galeti, H. V. Avanço Choudhuri, B. Dhar Dwivedi, S. M. M. Henini, M. Mondal, Aniruddha |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 29 (2018) nr. 22 pagina's 19588-19600 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |