|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 101 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of lapping parameters for silicon wafer using an artificial neural network |
| Auteur: |
Ozturk, Savas Kayabasi, Erhan Celik, Erdal Kurt, Huseyin |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 29 (2017) nr. 1 pagina's 260-270 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 101 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |