|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of In1 − xCdxS, In2S3 and CdS thin films grown by SILAR method |
| Auteur: |
Kundakçi, Mutlu |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 28 (2017) nr. 8 pagina's 5807-5816 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |