|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Dependence of the optoelectronic properties of Se-doped silicon on the thickness of dopant film |
| Auteur: |
Tang, Fei Wu, Zhiming Du, Lingyan Li, Rui Jiang, Yadong |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 28 (2016) nr. 5 pagina's 4083-4087 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |