|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 55 van 105 gevonden artikelen
| Titel: |
Modulation of microstructure and interface properties of co-sputter derived Hf1−xTixO2 thin films with various Ti content |
| Auteur: |
Das, K. C. Ghosh, S. P. Tripathy, N. Singhal, R. Kar, J. P. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 28 (2017) nr. 17 pagina's 12408-12414 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 55 van 105 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |