|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 98 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
The CiOi(SiI)2 defect in silicon: density functional theory calculations |
| Auteur: |
Christopoulos, S.-R. G. Sgourou, E. N. Angeletos, T. Vovk, R. V. Chroneos, A. Londos, C. A. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 28 (2017) nr. 14 pagina's 10295-10297 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 98 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |