|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
A superior interfacial reliability of Fe–Ni UBM during high temperature storage |
| Auteur: |
Gao, Li-Yin Li, Cai-Fu Wan, Peng Liu, Zhi-Quan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 28 (2017) nr. 12 pagina's 8537-8545 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |