|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
Evolution of nanostructure in hydrogenated amorphous silicon thin films with substrate temperature studied by Raman mapping, Raman scattering and spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
Madaka, Ramakrishna Kanneboina, Venkanna Agarwal, Pratima |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 28 (2017) nr. 12 pagina's 8885-8894 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |