|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 54 van 150 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of annealing temperature on the microstructure, leakage current and dielectric properties of Na0.5Bi0.5(Ti,Zn)O3 thin films |
| Auteur: |
Geng, Fangjuan Yang, Changhong Jing, Xiangyang Lv, Panpan Feng, Chao Yao, Qian |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 27 (2016) nr. 9 pagina's 9599-9604 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 54 van 150 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |