|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 150 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessment of refractive index changes by spectral reflectance in the first stages of AlxGa1−xN layer growth using SiN treatment |
| Auteur: |
Benzarti, Z. Khelifi, M. Khalfallah, A. El Jani, B. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 27 (2016) nr. 6 pagina's 6336-6346 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 150 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |