|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 152 gevonden artikelen
| Titel: |
Electromigration effect on Sn-58 % Bi solder joints with various substrate metallizations under current stress |
| Auteur: |
Lee, Sang-Min Yoon, Jeong-Won Jung, Seung-Boo |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 27 (2015) nr. 2 pagina's 1105-1112 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 152 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |