|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 77 van 125 gevonden artikelen
| Titel: |
Micromorphology characterization of copper thin films by AFM and fractal analysis |
| Auteur: |
Arman, Ali Ţălu, Ştefan Luna, Carlos Ahmadpourian, Azin Naseri, Mosayeb Molamohammadi, Mehrdad |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 26 (2015) nr. 12 pagina's 9630-9639 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 77 van 125 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |