|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Annealing temperature dependence on the structural and optical properties of sputtering-grown high-k HfO2 gate dielectrics |
| Auteur: |
Deng, B. He, G. Chen, X. S. Chen, X. F. Zhang, J. W. Liu, M. Lv, J. G. Sun, Z. Q. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 25 (2014) nr. 9 pagina's 4163-4169 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |