Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 34 van 79 gevonden artikelen
 
 
  Failure analysis method to study solder wicking phenomena in modern microelectronic devices
 
 
Titel: Failure analysis method to study solder wicking phenomena in modern microelectronic devices
Auteur: Vargas, Lidia
Terrazas, Juan
Cabrera, Eduardo
Valdez, Benjamin
Nedev, Nicola
Verschenen in: Journal of materials science. Materials in electronics
Paginering: Jaargang 25 (2013) nr. 2 pagina's 609-617
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 34 van 79 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland