|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 56 van 65 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of lattice deformation and atomic bond length for AlxGa1−xN epi-layers with synchrotron radiation X-ray absorption spectroscopy |
| Auteur: |
Wang, Shuchang Zhang, Xiong Liu, Muchi Wang, Bowei Feng, Zhe Chuan Cui, Yiping |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 25 (2014) nr. 11 pagina's 4800-4805 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 56 van 65 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |