|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 81 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of surface roughness of Pt Schottky contacts on quaternary n-Al0.08In0.08Ga0.84N thin film assessed by atomic force microscopy and fractal analysis |
| Auteur: |
Ţălu, Ştefan Ghazai, Alaa J. Stach, Sebastian Hassan, Abu Hassan, Zainuriah Ţălu, Mihai |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 25 (2013) nr. 1 pagina's 466-477 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 81 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |