|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on high temperature fracture properties of amorphous silicon dioxide by large-scale atomistic simulations |
| Auteur: |
Liao, Ningbo Xue, Wei Zhou, Hongming Zhang, Miao |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 24 (2012) nr. 5 pagina's 1575-1579 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |