|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution imaging analysis of CdSe/ZnS core–shell quantum dots (QDs) using Cs-corrected HR-TEM/STEM |
| Auteur: |
Shin, Huiyoun Jang, Dongseon Jang, Youngil Cho, Myungju Park, Kyuho |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 24 (2013) nr. 10 pagina's 3744-3748 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |