|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Morphological, microstructural and electrical examinations on ZnO film on p-Si wafer |
| Auteur: |
Gokcen, M. Bal, S. Yildirim, G. Gulen, M. Varilci, A. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 23 (2012) nr. 11 pagina's 1971-1979 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |