|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 120 gevonden artikelen
| Titel: |
Capacitance and resistance measurements of SnO2 thick-films |
| Auteur: |
Ponce, Miguel Adolfo Castro, Miriam S. Aldao, Celso M. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 20 (2008) nr. 1 pagina's 25-32 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 120 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |