|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 120 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of thickness on nanomechanical behavior of Black Diamond™ low dielectric thin films for interconnect and packaging applications |
| Auteur: |
Sekhar, V. N. Chai, T. C. Balakumar, S. Shen, Lu Sinha, S. K. Tay, A. A. O. Yoon, Seung Wook |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 20 (2008) nr. 1 pagina's 74-86 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 120 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |