|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
In-situ optical reflectance and synchrotron X-ray topography study of defects in epitaxial dilute GaAsN on GaAs |
| Auteur: |
Reentilä, O. Lankinen, A. Mattila, M. Säynätjoki, A. Tuomi, T. O. Lipsanen, H. O’Reilly, L. McNally, P. J. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 (2007) nr. 2 pagina's 137-142 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |