|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Real time surface morphology analysis of semiconductor materials and devices using 4D interference microscopy |
| Auteur: |
Montgomery, Paul Anstotz, Freddy Johnson, Gyasi Kiefer, Renaud |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 (2007) nr. 1 pagina's 194-198 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |