|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 64 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
On the characterisation of grown-in defects in Czochralski-grown Si and Ge |
| Auteur: |
Vanhellemont, J. Steenbergen, J. Van Holsteyns, F. Roussel, P. Meuris, M. Młynarczyk, K. Śpiewak, P. Geens, W. Romandic, I. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 (2008) nr. 1 pagina's 24-31 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 64 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |