|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Interpretation of lifetime and defect spectroscopy measurements by generalized rate equations |
| Auteur: |
Hahn, T. Schmerler, S. Hahn, S. Niklas, J. R. Gruendig-Wendrock, B. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 (2008) nr. 1 pagina's 79-82 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |