|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of computational intelligence to analysis of PITS spectral images for defect centres in semi-insulating materials |
| Auteur: |
Jankowski, Stanisław Kamiński, Pawel Będkowski, Janusz Szymański, Zbigniew Danilewicz, Przemysław Kozłowski, Roman Pawłowski, Michał |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 (2008) nr. 1 pagina's 356-361 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |