|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of strained Si wafers by X-ray diffraction techniques |
| Auteur: |
Shimura, Takayoshi Kawamura, Kohta Asakawa, Masahiro Watanabe, Heiji Yasutake, Kiyoshi Ogura, Atsushi Fukuda, Kazunori Sakata, Osami Kimura, Shigeru Edo, Hiroki Iida, Satoshi Umeno, Masataka |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 19 (2008) nr. 1 pagina's 189-193 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |