|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Raman scattering characterization of SF-PECVD-grown hydrogenated microcrystalline silicon thin films using growth surface electrical bias |
| Auteur: |
Johnson, Erik V. Kherani, Nazir P. Zukotynski, Stefan |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. 10 pagina's 801-813 |
| Jaar: |
2006-04-07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |