|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 70 van 90 gevonden artikelen
| Titel: |
Soft X-ray emission spectroscopy of SiO2/Si structures irradiated with high-energy electrons |
| Auteur: |
S. N. Shamin V. R. Galakhov S. Kaschieva S. N. Dmitriev A.G Belov |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 14 (2003) nr. 10 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2003-10/12-/12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 70 van 90 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |