|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 70 van 90 gevonden artikelen
| Titel: |
Soft X-ray emission spectroscopy of SiO2/Si structures irradiated with high-energy electrons |
| Auteur: |
Shamin, S. N. Galakhov, V. R. Kaschieva, S. Dmitriev, S. N. Belov, A.G |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 14 (2003) nr. 10-12 pagina's 809-811 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 70 van 90 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |