|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Optical constants of vacuum-evaporated Cd0.96Zn0.04Te thin films measured by spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
M. Sridharan Sa. K. Narayandass D. Mangalaraj Hee Chul Lee |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 13 (2002) nr. 8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2002-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |