|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Morphological study by XPS and AFM of wide band gap \betab\hbox{-In}_{2}\hbox{S}_{3} thin films synthesized by a dry physical process |
| Auteur: |
N. Barreau S. Marsillac J. C. Bernede L. Assmann V. Jousseaume |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 13 (2002) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2002-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |