|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
A method for the prediction of microwave properties of thick film conductors from physical measurements and d.c. conductivity |
| Auteur: |
Pitt, K. Free, C. Tian, Z. Jakubowska, M. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2001) nr. 9 pagina's 491-495 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |