|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution X-ray diffraction and fast routine evaluation of graded hetero-epitaxial layers |
| Auteur: |
J. F. Woitok |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2001) nr. 4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |