|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Processing factors influencing the leakage current in shallow junction diodes for deep submicro-meter CMOS |
| Auteur: |
Grau, L. Augendre, E. Simoen, E. Rooyackers, R. Claeys, C. Badenes, G. Romano-Rodriguez, A. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2001) nr. 4-6 pagina's 211-214 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |