|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of microstructure on degradation of AlN films prepared by ion beam assisted deposition |
| Auteur: |
Sakuragi, Yoshifumi Watanabe, Yoshihisa Amamoto, Yoshiki Nakamura, Yoshikazu |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 10 (1999) nr. 7 pagina's 533-538 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |